2019 |
Electronics of Time-of-Flight Measurement for Back-n at CSNS |
Yu, T.;Cao, P.;Ji, X. Y.;Xie, L. K.;Huang, X. R.;An, Q.;Bai, H. Y.;Bao, J.;Chen, Y. H.;Cheng, P. J.;Cui, Z. Q.;Fan, R. R.;Feng, C. Q.;Gu, M. H.;Han, Z. J.;He, G. Z.;He, Y. C.;He, Y. F.;Huang, H. X.;Huang, W. L.;Ji, X. L.;Jiang, H. Y.;Jiang, W.;Jing, H. T.;Kang, L.;Li, B.;Li, L.;Li, Q.;Li, X.;Li, Y.;Liu, R.;Liu, S. B.;Liu, X. Y.;Luan, G. Y.;Ma, Y. L.;Ning, C. J.;Ren, J.;Ruan, X. C.;Song, Z. H.;Sun, H.;Sun, X. Y.;Sun, Z. J.;Tan, Z. X.;Tang, J. Y.;Tang, H. Q.;Wang, P. C.;Wang, Q.;Wang, T. F.;Wang, Y. F.;Wang, Z. H.;Wang, Z.;Wen, J.;Wen, Z. W.;Wu, Q. B.;Wu, X. G.;Wu, X.;Yang, Y. W.;Yi, H.;Yu, L.;Yu, Y. J.;Zhang, G. H.;Zhang, L. Y.;Zhang, J.;Zhang, Q. M.;Zhang, Q. W.;Zhang, X. P.;Zhao, Y. T.;Zhong, Q. P.;Zhou, L.;Zhou, Z. Y.;Zhu, K. J. |