| Issue Date |
Title |
Author(s) |
| 2016 |
MASS MEASUREMENTS OF ISOLATED OBJECTS FROM SPACE-BASED MICROLENSING |
Zhu, Wei;Novati, S. Calchi;Gould, A.;Udalski, A.;Han, C.;Shvartzvald, Y.;Ranc, C.;Jorgensen, U. G.;Poleski, R.;Bozza, V.;Beichman, C.;Bryden, G.;Carey, S.;Gaudi, B. S.;Henderson, C. B.;Pogge, R. W.;Porritt, I.;Wibking, B.;Yee, J. C.;Pawlak, M.;Szymanski, M. K.;Skowron, J.;Mroz, P.;Kozlowski, S.;Wyrzykowski, L.;Pietrukowicz, P.;Pietrzynski, G.;Soszynski, I.;Ulaczyk, K.;Choi, J.Y.;Park, H.;Jung, Y. K.;Shin, I.G.;Albrow, M. D.;Park, B.G.;Kim, S.L.;Lee, C.U.;Cha, S.M.;Kim, D.J.;Lee, Y.;Friedmann, M.;Kaspi, S.;M |
| 2019 |
OGLE-2017-BLG-1186: first application of asteroseismology and Gaussian processes to microlensing |
Li, S. -S.;Zang, W.;Udalski, A.;Shvartzvald, Y.;Huber, D.;Lee, C. -U.;Sumi, T.;Gould, A.;Mao, S.;Fouque, P.;Wang, T.;Dong, S.;Jorgensen, U. G.;Cole, A.;Mroz, P.;Szymanski, M. K.;Skowron, J.;Poleski, R.;Soszynski, I.;Pietrukowicz, P.;Kozlowski, S.;Ulaczyk, K.;Rybicki, K. A.;Iwanek, P.;Yee, J. C.;Novati, S. Calchi;Beichman, C. A.;Bryden, G.;Carey, S.;Gaudi, B. S.;Henderson, C. B.;Zhu, W.;Albrow, M. D.;Chung, S. -J.;Han, C.;Hwang, K. -H.;Jung, Y. K.;Ryu, Y. -H.;Shin, I. -G.;Cha, S. -M.;Kim, D. -J.;Kim, H. -W.;Kim, S. -L.;Lee, D. -J.;Lee, Y.;Park, B. -G.;Pogge, R. W.;Bond, I. A.;Abe, F.;Barry, R.;Bennett, D. P.;Bhattacharya, A.;Donachie, M.;Fukui, A.;Hirao, Y.;Itow, Y.;Kondo, I.;Koshimoto, N.;Li, M. C. A.;Matsubara, Y.;Muraki, Y.;Miyazaki, S.;Nagakane, M.;Ranc, C.;Rattenbury, N. J.;Suematsu, H.;Sullivan, D. J.;Suzuki, D.;Tristram, P. J.;Yonehara, A.;Christie, G.;Drummond, J.;Green, J.;Hennerley, S.;Natusch, T.;Porritt, I.;Bachelet, E.;Maoz, D.;Street, R. A.;Tsapras, Y.;Bozza, V.;Dominik, M.;Hundertmark, M.;Peixinho, N.;Sajadian, S.;Burgdorf, M. J.;Evans, D. F.;Jaimes, R. Figuera;Fujii, Y. I.;Haikala, L. K.;Helling, C.;Henning, T.;Hinse, T. C.;Mancini, L.;Longa-Pena, P.;Rahvar, S.;Rabus, M.;Skottfelt, J.;Snodgrass, C.;Southworth, J.;Unda-Sanzana, E.;von Essen, C.;Beaulieu, J. -P.;Blackman, J.;Hill, K. |
| 2015 |
SPITZER MICROLENS MEASUREMENT OF A MASSIVE REMNANT IN A WELL-SEPARATED BINARY |
Shvartzvald, Y.;Udalski, A.;Gould, A.;Han, C.;Bozza, V.;Friedmann, M.;Hundertmark, M.;Beichman, C.;Bryden, G.;Novati, S. Calchi;Carey, S.;Fausnaugh, M.;Gaudi, B. S.;Henderson, C. B.;Kerr, T.;Pogge, R. W.;Varricatt, W.;Wibking, B.;Yee, J. C.;Zhu, W.;Poleski, R.;Pawlak, M.;Szymanski, M. K.;Skowron, J.;Mroz, P.;Kozlowski, S.;Wyrzykowski, L.;Pietrukowicz, P.;Pietrzynski, G.;Soszynski, I.;Ulaczyk, K.;Choi, J.Y.;Park, H.;Jung, Y. K.;Shin, I.G.;Albrow, M. D.;Park, B.G.;Kim, S.L.;Lee, C.U.;Cha, S.M.;Kim, D.J.;Lee, |
