| Issue Date |
Title |
Author(s) |
| 1-Dec-2020 |
Beam background study for the Belle II Silicon Vertex Detector |
Tanigawa, H.;Adamczyk, K.;Aihara, H.;Aziz, T.;Bacher, S.;Bahinipati, S.;Batignani, G.;Baudot, J.;Behera, P. K.;Bettarini, S.;Bilka, T.;Bozek, A.;Buchsteiner, F.;Casarosa, G.;Cervenkov, D.;Chen, Y. Q.;Corona, L.;Czank, T.;Das, S. B.;Dash, N.;de Marino, G.;Dolezal, Z.;Dujany, G.;Forti, F.;Friedl, M.;Ganiev, E.;Gobbo, B.;Halder, S.;Hara, K.;Hazra, S.;Higuchi, T.;Irmler, C.;Ishikawa, A.;Jeon, H. B.;Joo, C.;Kaleta, M.;Kaliyar, A. B.;Kandra, J.;Kang, K. H.;Kapusta, P.;Kodys, P.;Kohriki, T.;Kumar, M.;Kumar, R.;Kvasnicka, P.;La Licata, C.;Lalwani, K.;Lanceri, L.;Lee, S. C.;Li, Y. B.;Libby, J.;Lueck, T.;Maity, S.;Mayekar, S. N.;Mohanty, G. B.;Grimaldo, J. A. Mora;Morii, T.;Nakamura, K. R.;Nakayama, H.;Natkaniec, Z.;Onuki, Y.;Ostrowicz, W.;Paladino, A.;Paoloni, E.;Park, H.;Rao, K. K.;Ripp-Baudot, I.;Rizzo, G.;Rout, N.;Sahoo, D.;Santelj, L.;Sato, N.;Schwanda, C.;Suzuki, J.;Tanaka, S.;Thalmeier, R.;Tsuboyama, T.;Uematsu, Y.;Vahsen, S. E.;Verbycka, O.;Vitale, L.;Wan, K.;Watanuki, S.;Webb, J.;Wiechczynski, J.;Yin, H.;Zani, L.;Zhang, T. |
| 1-Apr-2020 |
Commissioning of the Belle II Silicon Vertex Detector |
Casarosa, G.;Aihara, H.;Aziz, T.;Bacher, S.;Bahinipati, S.;Barberio, E.;Baroncelli, Ti.;Baroncelli, To.;Basith, A. K.;Batignani, G.;Bauer, A.;Behera, P. K.;Bertacchi, V.;Bettarini, S.;Bhuyan, B.;Bilka, T.;Bosi, F.;Bosisio, L.;Bozek, A.;Buchsteiner, F.;Caria, G.;Ceccanti, M.;Cervenkov, D.;Corona, L.;Czank, T.;Dash, N.;De Nuccio, M.;Dolezal, Z.;Forti, F.;Friedl, M.;Gobbo, B.;Grimaldo, J. A. M.;Halder, S.;Hara, K.;Higuchi, T.;Irmler, C.;Ishikawa, A.;Jeon, H. B.;Joo, C.;Kaleta, M.;Kandra, J.;Kang, K. H.;Kodys, P.;Kohriki, T.;Komarov, I.;Kumar, M.;Kumar, R.;Kvasnicka, P.;La Licata, C.;Lalwani, K.;Lanceri, L.;Lee, J. Y.;Lee, S. C.;Li, Y.;Libby, J.;Lueck, T.;Mammini, P.;Martini, A.;Mayekar, S. N.;Mohanty, G. B.;Morii, T.;Nakamura, K. R.;Natkaniec, Z.;Onuki, Y.;Ostrowicz, W.;Paladino, A.;Paoloni, E.;Park, H.;Prasanth, K.;Profeti, A.;Rao, K. K.;Rashevskaya, I.;Resmi, P. K.;Rizzo, G.;Rozanska, M.;Sahoo, D.;Sasaki, J.;Sato, N.;Schultschik, S.;Schwanda, C.;Stypula, J.;Suzuki, J.;Tanaka, S.;Tanigawa, H.;Taylor, G. N.;Thalmeier, R.;Tsuboyama, T.;Urquijo, P.;Vitale, L.;Wan, K.;Watanabe, M.;Watanuki, S.;Watson, I. J.;Webb, J.;Wiechczynski, J.;Williams, S.;Yin, H.;Zani, L. |
| 2019 |
Measurements of branching fraction and direct CP asymmetry in B-+/- -> (KSKSK +/-)-K-0-K-0 and a search for B-+/- -> (KSKS0)-K-0 pi(+/-) |
Kaliyar, A. B.;Behera, P.;Mohanty, G. B.;Gaur, V;Adachi, I;Ahn, J. K.;Aihara, H.;Al Said, S.;Asner, D. M.;Aulchenko, V;Aushev, T.;Ayad, R.;Babu, V;Badhrees, I;Bahinipati, S.;Bakich, A. M.;Bansal, V;Beleno, C.;Bhardwaj, V;Bilka, T.;Biswal, J.;Bobrov, A.;Bozek, A.;Bracko, M.;Cao, L.;Cervenkov, D.;Chekelian, V;Chen, A.;Cheon, B. G.;Chilikin, K.;Cho, H. E.;Cho, K.;Choi, S-K;Choi, Y.;Choudhury, S.;Cinabro, D.;Cunliffe, S.;Dash, N.;Di Carlo, S.;Dingfelder, J.;Dolezal, Z.;Dong, T., V;Drasal, Z.;Eidelman, S.;Epifanov, D.;Fast, J. E.;Ferber, T.;Frey, A.;Fulsom, B. G.;Gang, R.;Gabyshev, N.;Garmash, A.;Gelb, M.;Giri, A.;Goldenzweig, P.;Golob, B.;Greenwald, D.;Grzymkowska, O.;Haba, J.;Hara, T.;Hayasaka, K.;Hayashii, H.;Hou, W-S;Hsu, C-L;Iijima, T.;Inami, K.;Ishikawa, A.;Itoh, R.;Iwasaki, M.;Iwasaki, Y.;Jacobs, W. W.;Jeon, H. B.;Jia, S.;Joffe, D.;Joo, K. K.;Kahn, J.;Karyan, G.;Kawasaki, T.;Kichimi, H.;Kiesling, C.;Kim, C. H.;Kim, D. Y.;Kim, H. J.;Kim, S. H.;Kimmel, T. D.;Kinoshita, K.;Kodys, P.;Korpar, S.;Kotchetkov, D.;Krizan, P.;Kroeger, R.;Krokovny, P.;Kuhr, T.;Kulasiri, R.;Kumar, R.;Kuzmin, A.;Kwon, Y-J;Lee, I. S.;Lee, J. K.;Lee, J. Y.;Lee, S. C.;Levit, D.;Li, C. H.;Li, L. K.;Li, Y. B.;Li Gioi, L.;Libby, J.;Luo, T.;MacNaushton, J.;Matsuda, T.;Matvienko, D.;Merola, M.;Miyabayashi, K.;Miyata, H.;Mizuk, R.;Mohanty, S.;Mori, T.;Nakao, M.;Nath, K. J.;Natkaniec, Z.;Nayak, M.;Nisar, N. K.;Nishida, S.;Nishimura, K.;Ogawa, K.;Ogawa, S.;Ono, H.;Onuki, Y.;Ostrowicz, W.;Pakhlova, G.;Pal, B.;Pardi, S.;Patra, S.;Paul, S.;Pedlar, T. K.;Pestotnik, R.;Piilonen, L. E.;Popov, V;Prasanth, K.;Prencipe, E.;Rabusov, A.;Resmi, P. K.;Ritter, M.;Rostomyan, A.;Russo, G.;Sahoo, D.;Sakai, Y.;Salehi, M.;Sandilya, S.;Sanuki, T.;Savinov, V;Schneider, O.;Schnell, G.;Schueler, J.;Schwanda, C.;Schwartz, A. J.;Seino, Y.;Senyo, K.;Sevior, M. E.;Shen, C. P.;Shibata, T-A;Shiu, J-G;Simon, F.;Solovieva, E.;Staric, M.;Stonier, Z. S.;Sumihama, M.;Sumiyoshi, T.;Sutcliffe, W.;Takizawa, M.;Tanida, K.;Tao, Y.;Tenchini, F.;Trabelsi, K.;Uchida, M.;Uglov, T.;Unno, Y.;Uno, S.;Urquijo, P.;Usov, Y.;Van Tonder, R.;Varner, G.;Varve, K. E.;Vossen, A.;Waheed, E.;Wang, B.;Wang, C. H.;Wang, M-Z;Wang, P.;Wang, X. L.;Won, E.;Yang, S. B.;Ye, H.;Yelton, J.;Yin, J. H.;Yusa, Y.;Zhang, Z. P.;Zhilich, V;Zhukova, V |
| 2019 |
Measurements of isospin asymmetry and difference of direct CP asymmetries in inclusive B -> X-s gamma decays |
Watanuki, S.;Ishikawa, A.;Adachi, I;Aihara, H.;Al Said, S.;Asner, D. M.;Aushev, T.;Ayad, R.;Babu, V;Badhrees, I;Bakich, A. M.;Bansal, V;Behera, P.;Beleno, C.;Berger, M.;Bhardwaj, V;Bhuyan, B.;Bilka, T.;Biswal, J.;Bobrov, A.;Bonvicini, G.;Bozek, A.;Bracko, M.;Browder, T. E.;Cao, L.;Cervenkov, D.;Chang, P.;Cheon, B. G.;Chilikin, K.;Cho, K.;Choi, Y.;Choudhury, S.;Cinabro, D.;Cunliffe, S.;Di Carlo, S.;Dingfelder, J.;Dong, T., V;Eidelman, S.;Epifanov, D.;Fast, J. E.;Ferber, T.;Frey, A.;Fulsom, B. G.;Gaur, V;Gabyshev, N.;Garmash, A.;Gelb, M.;Giri, A.;Goldenzweig, P.;Guan, Y.;Guido, E.;Haba, J.;Hayasaka, K.;Hayashii, H.;Hou, W-S;Iijima, T.;Inami, K.;Inguglia, G.;Itoh, R.;Iwasaki, M.;Iwasaki, Y.;Jacobs, W. W.;Jaegle, I;Jeon, H. B.;Jia, S.;Jin, Y.;Joo, K. K.;Julius, T.;Karyan, G.;Kawasaki, T.;Kiesling, C.;Kim, D. Y.;Kim, J. B.;Kim, S. H.;Kinoshita, K.;Kodys, P.;Korpar, S.;Kotchetkov, D.;Krizan, P.;Kroeger, R.;Krokovny, P.;Kuhr, T.;Kumar, R.;Kuzmin, A.;Kwon, Y-J;Lee, I. S.;Lee, S. C.;Li, L. K.;Li, Y. B.;Li Gioi, L.;Libby, J.;Liventsev, D.;Lubej, M.;Luo, T.;Masuda, M.;Matsuda, T.;Merola, M.;Miyabayashi, K.;Miyata, H.;Mizuk, R.;Mohanty, G. B.;Mori, T.;Nakao, M.;Nanut, T.;Nath, K. J.;Niiyama, M.;Nishida, S.;Nishimura, K.;Ogawa, K.;Ogawa, S.;Okuno, S.;Ono, H.;Ostrowicz, W.;Pakhlov, P.;Pakhlova, G.;Pal, B.;Park, H.;Paul, S.;Pedlar, T. K.;Pestotnik, R.;Piilonen, L. E.;Prencipe, E.;Ritter, M.;Rostomyan, A.;Russo, G.;Sakai, Y.;Sandilya, S.;Santelj, L.;Savinov, V;Schneider, O.;Schnell, G.;Schueler, J.;Schwanda, C.;Schwartz, A. J.;Seino, Y.;Senyo, K.;Seon, O.;Shebalin, V;Shibata, T-A;Shiu, J-G;Shwartz, B.;Sokolov, A.;Solovieva, E.;Stanic, S.;Staric, M.;Sumiyoshi, T.;Sutcliffe, W.;Takizawa, M.;Tanida, K.;Taniguchi, N.;Tenchini, F.;Uchida, M.;Uglov, T.;Unno, Y.;Uno, S.;Vahsen, S. E.;Van Hulse, C.;Van Tonder, R.;Varner, G.;Varvell, K. E.;Vossen, A.;Wang, B.;Wang, C. H.;Wang, M-Z;Wang, P.;Watanabe, M.;Widmann, E.;Won, E.;Ye, H.;Yin, J. H.;Yusa, Y.;Zakharov, S.;Zhang, Z. P.;Zhilich, V;Zhukova, V;Zhulanov, V;Zupanc, A. |
| 1-Apr-2020 |
Run and slow control system of the Belle II silicon vertex detector |
Irmler, C.;Aihara, H.;Aziz, T.;Bacher, S.;Bahinipati, S.;Barberio, E.;Baroncelli, Ti.;Baroncelli, To.;Basith, A. K.;Batignani, G.;Bauer, A.;Behera, P. K.;Bertacchi, V.;Bettarini, S.;Bhuyan, B.;Bilka, T.;Bosi, F.;Bosisio, L.;Bozek, A.;Buchsteiner, F.;Caria, G.;Casarosa, G.;Ceccanti, M.;Cervenkov, D.;Czank, T.;Dash, N.;De Nuccio, M.;Dolezal, Z.;Forti, F.;Friedl, M.;Gobbo, B.;Grimaldo, J. A. M.;Hara, K.;Higuchi, T.;Ishikawa, A.;Jeon, H. B.;Joo, C.;Kaleta, M.;Kandra, J.;Kang, K. H.;Kodys, P.;Kohriki, T.;Komarov, I.;Kumar, M.;Kumar, R.;Kvasnicka, P.;La Licata, C.;Lalwani, K.;Lanceri, L.;Lee, J. Y.;Lee, S. C.;Li, Y.;Libby, J.;Lueck, T.;Mammini, P.;Martini, A.;Mayekar, S. N.;Mohanty, G. B.;Morii, T.;Nakamura, K. R.;Natkaniec, Z.;Onuki, Y.;Ostrowicz, W.;Paladino, A.;Paoloni, E.;Park, H.;Prasanth, K.;Profeti, A.;Rao, K. K.;Rashevskaya, I.;Resmi, P. K.;Rizzo, G.;Rozanska, M.;Sahoo, D.;Sasaki, J.;Sato, N.;Schultschik, S.;Schwanda, C.;Stypula, J.;Suzuki, J.;Tanaka, S.;Tanigawa, H.;Taylor, G. N.;Thalmeier, R.;Tsuboyama, T.;Urquijo, P.;Vitale, L.;Wan, K.;Watanabe, M.;Watanuki, S.;Watson, I. J.;Webb, J.;Wiechczynski, J.;Williams, S.;Yin, H.;Zani, L. |
| 2019 |
Search for a Light CP-odd Higgs Boson and Low-Mass Dark Matter at the Belle Experiment |
Seong, I. S.;Vahsen, S. E.;Adachi, I;Aihara, H.;Al Said, S.;Asner, D. M.;Aulchenko, V;Aushev, T.;Ayad, R.;Babu, V;Bakich, A. M.;Bansal, V;Behera, P.;Bhardwaj, V;Bhuyan, B.;Bilka, T.;Biswal, J.;Bobrov, A.;Bonvicini, G.;Bozek, A.;Bracko, M.;Browder, T. E.;Cao, L.;Cervenkov, D.;Chang, P.;Chekelian, V;Chen, A.;Cheon, B. G.;Chilikin, K.;Cho, K.;Choi, Y.;Choudhury, S.;Cinabro, D.;Cunliffe, S.;Dash, N.;Di Carlo, S.;Dingfelder, J.;Dong, T., V;Eidelman, S.;Epifanov, D.;Fast, J. E.;Frey, A.;Fulsom, B. G.;Garg, R.;Gaur, V;Gabyshev, N.;Garmash, A.;Gelb, M.;Giri, A.;Goldenzweig, P.;Golob, B.;Guido, E.;Haba, J.;Hayasaka, K.;Hayashii, H.;Hedges, M. T.;Higuchi, T.;Hou, W-S;Hsu, C-L;Huang, K.;Iijima, T.;Inami, K.;Inguglia, G.;Ishikawa, A.;Itoh, R.;Iwasaki, M.;Iwasaki, Y.;Jacobs, W. W.;Jeon, H. B.;Jia, S.;Jin, Y.;Joffe, D.;Joo, K. K.;Julius, T.;Kaliyar, A. B.;Karyan, G.;Kawasaki, T.;Kichimi, H.;Kiesling, C.;Kim, D. Y.;Kim, J. B.;Kim, K. T.;Kim, S. H.;Kinoshita, K.;Kodys, P.;Korpar, S.;Kotchetkov, D.;Krizan, P.;Kroeger, R.;Krokovny, P.;Kuhr, T.;Kumita, T.;Kuzmin, A.;Kwon, Y-J;Lange, J. S.;Lee, I. S.;Lee, S. C.;Li, L. K.;Li, Y. B.;Gioi, L. Li;Libby, J.;Liventsev, D.;Lubej, M.;Luo, T.;MacQueen, C.;Masuda, M.;Matsuda, T.;Merola, M.;Miyabayashi, K.;Miyata, H.;Mizuk, R.;Mohanty, G. B.;Mori, T.;Mussa, R.;Nakano, E.;Nakao, M.;Nanut, T.;Nath, K. J.;Nayak, M.;Niiyama, M.;Nisar, N. K.;Nishida, S.;Nishimura, K.;Ogawa, S.;Ono, H.;Ostrowicz, W.;Pakhlov, P.;Pakhlova, G.;Pal, B.;Park, H.;Pedlar, T. K.;Pestotnik, R.;Piilonen, L. E.;Prencipe, E.;Ritter, M.;Rostomyan, A.;Russo, G.;Sakai, Y.;Salehi, M.;Sandilya, S.;Santelj, L.;Sanuki, T.;Savinov, V;Schneider, O.;Schnell, G.;Schueler, J.;Schwanda, C.;Seino, Y.;Senyo, K.;Seon, O.;Sevior, M. E.;Shen, C. P.;Shibata, T-A;Shiu, J-G;Simon, F.;Solovieva, E.;Stanic, S.;Staric, M.;Sumihama, M.;Sumiyoshi, T.;Sutcliffe, W.;Takizawa, M.;Tanida, K.;Tenchini, F.;Trabelsi, K.;Uchida, M.;Uglov, T.;Unno, Y.;Uno, S.;Usov, Y.;Van Hulse, C.;Van Tonder, R.;Varner, G.;Vinokurova, A.;Vossen, A.;Wang, B.;Wang, C. H.;Wang, P.;Watanabe, M.;Watanuki, S.;Widmann, E.;Won, E.;Yamamoto, H.;Ye, H.;Yelton, J.;Yuan, C. Z.;Yusa, Y.;Zakharov, S.;Zhang, Z. P.;Zhilich, V;Zhukova, V;Zhulanov, V;Zupanc, A. |
| 2019 |
Search for Omega(2012) -> K Xi(1530) -> K pi Xi at Belle |
Jia, S.;Shen, C. P.;Adachi, I;Ahn, J. K.;Aihara, H.;Al Said, S.;Asner, D. M.;Aushev, T.;Ayad, R.;Babu, V;Bahinipati, S.;Bakich, A. M.;Behera, P.;Beleno, C.;Bennett, J.;Berger, M.;Bhardwaj, V;Bilka, T.;Biswal, J.;Bobrov, A.;Bozek, A.;Bracko, M.;Browder, T. E.;Campajola, M.;Cao, L.;Cervenkov, D.;Chekelian, V;Chen, A.;Cheon, B. G.;Chilikin, K.;Cho, H. E.;Cho, K.;Choi, S-K;Choi, Y.;Choudhury, S.;Cinabro, D.;Cunliffe, S.;Dash, N.;De Nardo, G.;Di Capua, F.;Di Carlo, S.;Dolezal, Z.;Dong, T., V;Eidelman, S.;Epifanov, D.;Fast, J. E.;Fulsom, B. G.;Gaur, V;Gabyshev, N.;Garmash, A.;Giri, A.;Goldenzweig, P.;Golob, B.;Grzymkowska, O.;Hartbrich, O.;Hayasaka, K.;Hayashii, H.;Hou, W. S.;Huang, K.;Iijima, T.;Inami, K.;Inguglia, G.;Ishikawa, A.;Itoh, R.;Iwasaki, M.;Iwasaki, Y.;Jacobs, W. W.;Jin, Y.;Joffe, D.;Joo, K. K.;Kaliyar, A. B.;Kang, K. H.;Karyan, G.;Kato, Y.;Kawasaki, T.;Kichimi, H.;Kim, D. Y.;Kim, H. J.;Kim, K. T.;Kim, S. H.;Kinoshita, K.;Kodys, P.;Korpar, S.;Kotchetkov, D.;Krizan, P.;Kroeger, R.;Krokovny, P.;Kumar, R.;Kuzmin, A.;Kwon, Y-J;Lange, J. S.;Lee, I. S.;Lee, J. K.;Lee, J. Y.;Lee, S. C.;Li, L. K.;Li, Y. B.;Li Gioi, L.;Libby, J.;Lieret, K.;Liventsev, D.;Lu, P-C;MacNaughton, J.;MacQueen, C.;Masuda, M.;Matsuda, T.;Matvienko, D.;McNeil, J. T.;Merola, M.;Miyata, H.;Mizuk, R.;Mori, T.;Mussa, R.;Nakano, T.;Nakao, M.;Nath, K. J.;Nayak, M.;Niiyama, M.;Nisar, N. K.;Nishida, S.;Nishimura, K.;Ogawa, K.;Ogawa, S.;Ono, H.;Onuki, Y.;Ostrowicz, W.;Pakhlov, P.;Pakhlova, G.;Pal, B.;Pang, T.;Pardi, S.;Park, S-H;Patra, S.;Paul, S.;Pedlar, T. K.;Pestotnik, R.;Piilonen, L. E.;Popov, V;Prencipe, E.;Ritter, M.;Rostomyan, A.;Russo, G.;Sakai, Y.;Salehi, M.;Sandilya, S.;Santelj, L.;Sanuki, T.;Savinov, V;Schneider, O.;Schnell, G.;Schueler, J.;Schwanda, C.;Seino, Y.;Senyo, K.;Seon, O.;Sevior, M. E.;Shebalin, V;Shiu, J-G;Sokolov, A.;Solovieva, E.;Staric, M.;Strube, J. F.;Sumihama, M.;Sumiyoshi, T.;Sutcliffe, W.;Takizawa, M.;Tamponi, U.;Tanida, K.;Tenchini, F.;Uchida, M.;Uglov, T.;Unno, Y.;Uno, S.;Urquijo, P.;Usov, Y.;Vahsen, S. E.;Van Tonder, R.;Varner, G.;Vinokurova, A.;Vossen, A.;Wang, B.;Wang, C. H.;Wang, M-Z;Wang, P.;Won, E.;Yang, S. B.;Ye, H.;Yelton, J.;Yin, J. H.;Yuan, C. Z.;Yusa, Y.;Zhang, Z. P.;Zhilich, V;Zhukova, V |
| 1-Apr-2020 |
Series production testing and commissioning of the Belle II SVD readout system |
Thalmeier, R.;Aihara, H.;Aziz, T.;Bacher, S.;Bahinipati, S.;Barberio, E.;Baroncelli, Ti.;Baroncelli, To.;Basith, A. K.;Batignani, G.;Bauer, A.;Behera, P. K.;Bertacchi, V.;Bettarini, S.;Bhuyan, B.;Bilka, T.;Bosi, F.;Bosisio, L.;Bozek, A.;Buchsteiner, F.;Caria, G.;Casarosa, G.;Ceccanti, M.;Cervenkov, D.;Czank, T.;Dash, N.;De Nuccio, M.;Dolezal, Z.;Forti, F.;Friedl, M.;Gobbo, B.;Grimaldo, J. A. M.;Hara, K.;Higuchi, T.;Irmler, C.;Ishikawa, A.;Jeon, H. B.;Joo, C.;Kaleta, M.;Kandra, J.;Kang, K. H.;Kodys, P.;Kohriki, T.;Komarov, I.;Kumar, M.;Kumar, R.;Kvasnicka, P.;La Licata, C.;Lalwani, K.;Lanceri, L.;Lee, J. Y.;Lee, S. C.;Li, Y.;Libby, J.;Lueck, T.;Mammini, P.;Martini, A.;Mayekar, S. N.;Mohanty, G. B.;Morii, T.;Nakamura, K. R.;Natkaniec, Z.;Onuki, Y.;Ostrowicz, W.;Paladino, A.;Paoloni, E.;Park, H.;Prasanth, K.;Profeti, A.;Rao, K. K.;Rashevskaya, I.;Resmi, P. K.;Rizzo, G.;Rozanska, M.;Sahoo, D.;Sasaki, J.;Sato, N.;Schultschik, S.;Schwanda, C.;Stypula, J.;Suzuki, J.;Tanaka, S.;Tanigawa, H.;Taylor, G. N.;Tsuboyama, T.;Urquijo, P.;Vitale, L.;Wan, K.;Watanabe, M.;Watanuki, S.;Watson, I. J.;Webb, J.;Wiechczynski, J.;Williams, S.;Yin, H.;Zani, L. |
| 2019 |
Series production testing and commissioning of the Belle II SVD readout system |
Thalmeier, R.;Batignani, G.;Batignani, G.;Bauer, A.;Behera, P.K.;Bertacchi, V.;Bertacchi, V.;Bettarini, S.;Bettarini, S.;Bhuyan, B.;Bilka, T.;Bosi, F.;Bosisio, L.;Bosisio, L.;Bozek, A.;Aihara, H.;Buchsteiner, F.;Caria, G.;Casarosa, G.;Casarosa, G.;Ceccanti, M.;?ervenkov, D.;Czank, T.;Dash, N.;De Nuccio, M.;De Nuccio, M.;Dole?al, Z.;Forti, F.;Forti, F.;Aziz, T.;Friedl, M.;Gobbo, B.;Grimaldo, J.A.M.;Hara, K.;Higuchi, T.;Irmler, C.;Ishikawa, A.;Jeon, H.B.;Joo, C.;Kaleta, M.;Bacher, S.;Kandra, J.;Kang, K.H.;Kody?, P.;Kohriki, T.;Komarov, I.;Kumar, M.;Kumar, R.;Kvasni?ka, P.;La Licata, C.;La Licata, C.;Lalwani, K.;Bahinipati, S.;Lanceri, L.;Lanceri, L.;Lee, J.Y.;Lee, S.C.;Li, Y.;Libby, J.;Lueck, T.;Lueck, T.;Mammini, P.;Martini, A.;Martini, A.;Mayekar, S.N.;Mohanty, G.B.;Barberio, E.;Morii, T.;Nakamura, K.R.;Natkaniec, Z.;Onuki, Y.;Ostrowicz, W.;Paladino, A.;Paoloni, E.;Paoloni, E.;Park, H.;Prasanth, K.;Profeti, A.;Baroncelli, T.;Rao, K.K.;Rashevskaya, I.;Resmi, P.K.;Rizzo, G.;Rizzo, G.;Rozanska, M.;Sahoo, D.;Sasaki, J.;Sato, N.;Schultschik, S.;Schwanda, C.;Baroncelli, T.;Stypula, J.;Suzuki, J.;Tanaka, S.;Tanigawa, H.;Taylor, G.N.;Tsuboyama, T.;Urquijo, P.;Vitale, L.;Vitale, L.;Wan, K.;Watanabe, M.;Basith, A.K.;Watanuki, S.;Watson, I.J.;Webb, J.;Wiechczynski, J.;Williams, S.;Yin, H.;Zani, L.;Zani, L. |
