Browsing by Author 刘晓彦

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
Showing results 1 to 20 of 202  next >
Issue DateTitleAuthor(s)
20131T1R和1R阻变存储器集成结构及其实现方法刘力锋; 张伟兵; 李悦; 韩德栋; 王漪; 刘晓彦; 康晋锋; 张兴
200832nm及其以下技术节点CMOS技术中的新工艺及新结构器件王阳元; 张兴; 刘晓彦; 康晋锋; 黄如
200050nm肖特基隧穿晶体管(SBTT)特性模拟杜刚; 刘晓彦; 孙雷; 韩汝琦
2003Al2O3栅介质的制备工艺及其泄漏电流输运机制任驰; 杨红; 韩德栋; 康晋锋; 刘晓彦; 韩汝琦
2003Al2O3高k栅介质的可靠性杨红; 康晋锋; 韩德栋; 任驰; 夏志良; 刘晓彦; 韩汝琦
2001半导体器件蒙特卡罗模拟中保持电荷守恒的统计增强方法杜刚; 刘晓彦; 孙雷; 韩汝琦
2002半导体器件模拟技术的研究刘恩峰; 刘晓彦; 韩汝琦
2010包含电阻器的存储单元的制造方法刘力锋; 康晋锋; 郝跃; 刘晓彦; 陈沅沙; 高滨; 王漪; 韩汝琦
2003背棚MOS晶体管及其制作方法和静态随机存储器张盛东; 陈文新; 黄如; 刘晓彦
2009标准单元库版图缩放设计与实现吴迪; 马亮; 刘晓彦
2007BSIMPD模型参数提取中体电流分离提取方法杜刚; 赵玉玺; 张钢刚; 刘晓彦
2010测试阻变随机访问存储器件的数据保持特性的方法刘力锋; 张浩炜; 高滨; 康晋锋; 刘晓彦; 王漪; 韩汝琦
2012测试MOS器件温度特性的结构及方法何燕冬; 张钢刚; 刘晓彦; 张兴
2009测试半导体器件可靠性的方法刘晓彦; 杨佳琦; 康晋锋; 杨竞峰; 韩汝琦; 陈冰
2001CeO2高K栅介质薄膜的制备工艺及其电学性质康晋锋; 刘晓彦; 王玮; 俞挺; 韩汝琦; 连贵君; 张朝晖; 熊光成
2011单极阻变存储器及其制造方法康晋锋; 张飞飞; 陈沅沙; 陈冰; 高滨; 刘力锋; 刘晓彦; 韩汝琦
2002超薄膜层状磁性材料XY模型的临界现象王漪; 刘晓彦; 韩汝琦
2016超低功耗高性能集成路器件与工艺基础研究立项报告张兴; 刘晓彦
2001超深亚微米MOSFET及其模型与模拟刘晓彦
2012超低功耗集成电路技术张兴; 杜刚; 王源; 刘晓彦